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数字电桥的原理历史即测量能力

日期:2024-05-04 00:51
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摘要:

数字电桥原理:

  数字电桥的测量对象为阻抗元件的参数,包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q,电容C及其损耗因数D。因此,又常称数字电桥为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%,一般均在0.1%左右。
 
  数字电桥原理如图所示。图中Zx为被测阻抗,Rs为标准电阻器。切换开关K可分别测出两者的电压Ux与Us,于是有下式:
 
  此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Us对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量,然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量,再由计算机进行复数运算,即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。
 
  从图中的线路及工作原理可见,数字电桥只是继承了电桥传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流电桥的组成形式,而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。 数字电桥的原理历史即测量能力
 
  数字电桥可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递,以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字电桥带有标准接口,可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统,用于元件生产线上对产品自动检验,以实现生产过程的质量控制。80年代中期,通用的误差低于0.1%的数字电桥有几十种。数字电桥正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。
 

性能特点:
  
阻抗测量范围*宽的自动平衡电桥技术

 
  四端对端口配置有效消除测试线电磁耦合
 
  基本准确度0.05%(TH2828)、0.1%(TH2828A)
 
  *高达1 MHz的测量频率范围
 
  交流测试信号可编程至20V(选件)
 
  *高达30次/秒的测量速度
 
  六位读数分辨率
 
  可测量22种阻抗参数组合
 
  30 Ω, 100 Ω可选信号源输出阻抗
 
  10点列表扫描测试功能
 
  内部可编程直流偏置± 40 V/100 mA(选件)
 
  外置偏流源至40 A(配置两台TH1775)
 
  电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
 
  V、I测试信号电平监视功能
 
  20组内部仪器设定可供储存/读取
 
  内建比较器,10档分选及计数功能
 
  RS232C, GPIB和HANDLER接口
 
  2 m/4 m测试电缆扩展(选件, 仅TH2828)
 
  USB接口供数据外存(仅TH2828)
 
  320×240点阵大型图形LCD显示
 
  中英文可选操作界面 数字电桥的原理历史即测量能力

广泛的测量:

  无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
 
  半导体元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
 
  其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
 
  介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
 
  磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
 
  半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。数字电桥的原理历史即测量能力
 
  液晶材料:液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。
 
  
多种元件、材料特性测量能力
 
  揭示电感器件的多种特性
 
  TH2828/A**的性能和20Hz-1 MHz的测试频宽可以**地分析磁性材料、电感器件的性能。
 
  使用TH10301选件的100mA DC的偏置电流可以**测量高频电感器件、通讯变压器,滤波器的小电流叠加性能。使用TH1775电流叠加装置,  可使偏置电流达40A以**分析高功率、大电流电感器件。
 
  
**的陶瓷电容测量:
 
  1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征,同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。
 
  仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度,六位分辨率和自动电平控制(ALC)功能等,中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。
 
  
液晶单元的电容特性测量:
 
  电容-电压(C-Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法,常规仪器测量液晶单元的C-Vac特性遇到一个问题是*大测试电压不够。
 
  使用TH10301选件可提供分辨率为1%及*高达20Vms的可编程测试信号电平,使它能在*佳条件下进行液晶材料的电容特性测量。
 
  
半导体材料和元件的测量
 
  进行MOS型半导体制造工艺评价时,需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数,这些可从C-Vdc特性的测量结果推导出来。
 
  20HZ-1 MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。
 
  为了测试晶圆上的半导体器件,需要延伸电缆和探头,仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至*小。
 
  各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。

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